Описание
Дифракционный метод позволяет оценить размер частиц (зерен), усредненный по объему исследуемого вещества и несколько заниженный в сравнении с результатами электронной микроскопии.
Малый размер частиц — не единственная возможная причина уширения дифракционных отражений. За уширение отражений ответственны также микродеформации и химическая негомогенность, т. е. неоднородность состава исследуемого соединения по объему образца. Величины уширений, вызванных малым размером зерен, деформациями и негомогенностью, пропорциональны ,
и
соответственно, где
— угол дифракции. Благодаря различной угловой зависимости, три разных вида уширения можно разделить.
Характеристикой формы дифракционного отражения является полная ширина на половине высоты (Full Width at Half-Maximum, FWHM). Наилучшим образом форма отражения описывается функцией псевдо-Фойгта, являющейся суперпозицией функций Лоренца и Гаусса. В реальном эксперименте из-за конечного разрешения дифрактометра ширина отражения не может быть меньше инструментальной ширины. Это означает, что уширение b отражений нужно определять относительно инструментальной ширины, т. е. функции разрешения дифрактометра FWHMR, в виде
.
Последовательность дифракционного эксперимента по определению среднего размера областей когерентного рассеяния (размеров частиц), микронапряжений и негомогенности из величины уширения отражений включает следующие этапы:
1) измерение дифракционного спектра эталонного вещества и определение функции разрешения дифрактометра;
2) измерение дифракционного спектра исследуемого вещества и определение ширины отражений;
3) определение уширения отражений исследуемого вещества как функции угла дифракции;
4) выделение вкладов в уширение, обусловленных малым размером частиц, микронапряжениями и негомогенностью изучаемого вещества;
5) оценка среднего размера областей когерентного рассеяния (частиц, зерен), величины микронапряжений и негомогенности.Иллюстрации
Автор
- Гусев Александр Иванович
Источники
- Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. — М.: Физматлит, 2007. — 416 с.
- Гусев А.И., Курлов А. С. Аттестация нанокристаллических материалов по размеру частиц (зерен) // Металлофизика и новейшие технологии. 2008. Т. 30. №5. С. 679–694.