микроскопия, зондовая (англ. probe microscopy) — совокупность методов определения локальных механических, электрических, магнитных и др. свойств поверхности и формирования изображения поверхности различных веществ и материалов с помощью различных микрозондов.

Описание

Результатами зондовой микроскопии являются трехмерные изображения поверхности исследуемых объектов с пространственным разрешением, доходящим для некоторых из методов до нескольких ангстрем. Наиболее распространенными видами зондовой микроскопии являются сканирующая туннельная микроскопия и атомно-силовая микроскопия. Семейство зондовых микроскопов общирно, и, наряду со сканирующим туннельным и атомно-силовым микроскопами, включает многие другие типы устройств: сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (разрешение до 50 нм), сканирующий емкостной микроскоп (разрешение до 500 нм), сканирующий тепловой микроскоп (продольное пространственное разрешение 50 нм), сканирующий бесконтактный микроскоп (пространственное разрешение в плоскости образца 5 нм), магнитно-силовой микроскоп (разрешение менее 100 нм), сканирующий фрикционный микроскоп, электростатический силовой микроскоп, сканирующий микроскоп неупругого туннелирования для регистрации фононных спектров молекул, микроскоп с эмиссией баллистических электронов, силовой микроскоп с инверсной фотоэмиссией, акустический микроскоп ближнего поля.

Возможно также использование зондовых микроскопов в качестве нанотехнологических инструментов, позволяющих изменять строение поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.

Автор

  • Гусев Александр Иванович

Источники

  1. Гусев А. И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. Изд. 2-е, исправленное и дополненное. - М.: Наука-Физматлит, 2007 - 416 с.
  2. Неволин В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике. - М.: Техносфера, 2005 - 152 с.

Напишите нам