Описание
Микроскопия подразделяется на три большие области: оптическая, электронная и сканирующая зондовая. В оптической и электронной микроскопии используются дифракция, отражение или преломление электромагнитного излучения или электронных пучков при взаимодействии с исследуемым объектом с последующей регистрацией излучения для построения изображения. Это может происходить как при облучении поля изображения образца целиком, например, в обычной оптической микроскопии или просвечивающей электронной микроскопии, так и при сканировании образца пучком маленького размера, например, в конфокальной лазерной сканирующей микроскопии или сканирующей электронной микроскопии. В сканирующей зондовой микроскопии изображение поверхности объекта формируется с помощью зонда, сканирующего поверхность объекта. Изображение получается путем механического перемещения зонда по траектории в виде растра (строка за строкой) и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью как функции его положения (координат).
Минимальный размер объекта, который можно увидеть, определяется разрешающей способностью прибора, определяемой длиной волны используемого в микроскопии излучения и аппаратными искажениями. Фундаментальное ограничение заключается в невозможности получить прямыми методами при помощи электромагнитного излучения изображение объекта, меньшего по размерам, чем длина волны этого излучения. В сканирующей микроскопии разрешение определяется минимальным диаметром пучка. В сканирующей зондовой микроскопии разрешающая способность зависит от размера зонда и характера его взаимодействия с поверхностью объекта.
Авторы
- Зотов Андрей Вадимович
- Саранин Александр Александрович